测厚仪主要用于测定材料本身厚度或材料表面覆盖层厚度的仪器，在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度（如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料）。
这类仪器中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的放射性厚度计；有利用超声波频率变化的超声波厚度计；有利用涡流原理的涂层测厚仪；还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。一般常见的涂层测厚仪原理有三种：
1、涡流测厚法：利用涡流原理检测。适用于测量非磁性金属基体上非导电涂层的厚度。一般也叫铝基测厚仪。
2、磁性测厚法：适用于磁性金属基体上非磁性涂层厚度的测量。也叫铁基测厚仪，这种方法测量的结果精度较高。
3、荧光X射线：是通过光学射线原理，利用粒子加速射线，最终将所测得的数据通过光的形态施放出发，因为测量方式的特殊性，使得该类型的测厚被大量的使用在航天航空行业。
磁感应测厚、涡流测厚、荧光X射线就是目前涂层测厚仪市场比较常见的三种类型，三种设备使用方式各有不同，实际应用，各位还需要根据自身需求合理购买。如需了解国外涂层测厚仪相关知识，请点击《国外涂层测厚仪厂家及其产品的性能比较》（https://www.linshangtech.cn/tech/tech377.html）